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X射線三維形貌儀XRT
Jordan Valley公司新設(shè)計(jì)的Delta-X是多功能的X射線衍射設(shè)備，可靈活應(yīng)用于材料科學(xué)研究、工藝開發(fā)、與生產(chǎn)質(zhì)量控制。Delta-X衍射儀的光源臺(tái)和...

型號(hào)： DX 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 14:48:27 對(duì)比

XRD衍射儀X射線衍射儀多功能X射線衍射JV
納米劃痕儀
海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克先進(jìn)的納米力學(xué)測試設(shè)備，同時(shí)具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度。TI 980納米壓痕儀是...

型號(hào)： TI 980 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 14:31:35 對(duì)比

劃痕儀布魯克壓痕儀Bruker海思創(chuàng)
全自動(dòng)原子力顯微鏡AAFM
InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)CMP輪廓和蝕刻深度計(jì)量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計(jì)和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

型號(hào)： Bruker 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 14:29:10 對(duì)比

AAFM原子力全自動(dòng)原子力Bruker布魯克
Bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡AAFM
InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)CMP輪廓和蝕刻深度計(jì)量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計(jì)和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

型號(hào)： InSight ?... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 14:27:00 對(duì)比

AAFM原子力全自動(dòng)原子力Bruker布魯克
Bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSight CAP
InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)CMP輪廓和蝕刻深度計(jì)量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計(jì)和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

型號(hào)： Bruker I... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 14:25:01 對(duì)比

AAFM原子力全自動(dòng)原子力Bruker布魯克
Bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSight AFP
InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)CMP輪廓和蝕刻深度計(jì)量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計(jì)和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

型號(hào)： Bruker In... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 14:22:59 對(duì)比

AAFM原子力全自動(dòng)原子力Bruker布魯克
探針式表面輪廓儀
探針式表面輪廓儀在嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面...

型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 12:14:20 對(duì)比

探針式輪廓儀Dektak-XTL輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XTL
Bruker布魯克Dektak XTL 測針輪廓儀系統(tǒng)
Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 12:12:27 對(duì)比

探針式輪廓儀Dektak-XTL輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XTL
布魯克探針式表面輪廓儀
Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 12:10:22 對(duì)比

探針式輪廓儀Dektak-XTL輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XTL
Dektak-XT桌面型探針式表面輪廓儀
布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺(tái)階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak臺(tái)...

型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 12:07:57 對(duì)比

探針式輪廓儀Dektak-XT輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XT
探針式表面輪廓儀
布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺(tái)階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak臺(tái)...

型號(hào)： Dektak XT 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 12:05:30 對(duì)比

探針式輪廓儀表面輪廓儀輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER布魯克
ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡
ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡是表面輪廓儀功能和價(jià)值的標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)具有各種2D / 3D測量，高分辨率成像和用戶友好的界面，該系統(tǒng)以緊湊的封裝和緊湊的占...

型號(hào)： BRUKER Co... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 12:03:44 對(duì)比

三維光學(xué)輪廓儀白光干涉儀三維光學(xué)輪廓BRUKER ContourGT
ContourX-500 3D光學(xué)輪廓儀用于3D計(jì)量
ContourX-500光學(xué)輪廓儀是用于快速，非接觸式3D表面度量的世界上全面的自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的傾斜/傾斜光學(xué)頭，可以*編程，以在一定角...

型號(hào)： BRUKER Co... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 12:01:51 對(duì)比

三維光學(xué)輪廓儀白光干涉儀三維光學(xué)輪廓Bruker
三維光學(xué)輪廓儀用于表面紋理計(jì)量
ContourX-200光學(xué)輪廓儀將其特性，可自定義的選項(xiàng)以及易用性完美融合，可提供yi 流的快速，準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式3D表面度量。

型號(hào)： Bruker Co... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 11:59:36 對(duì)比

三維光學(xué)輪廓儀白光干涉儀三維光學(xué)輪廓Bruker
ContourX-100粗糙度測量的精簡而經(jīng)濟(jì)的臺(tái)式
ContourX-100光學(xué)輪廓儀以佳的價(jià)格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計(jì)量樹立了新的*。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝，可提供的2D / 3D高分辨率測量功能，

型號(hào)： ContourX-... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 11:57:54 對(duì)比

三維光學(xué)顯微鏡輪廓儀白光干涉儀三維光學(xué)輪廓Bruker
三維光學(xué)顯微鏡
布魯克作為三維表面測量與觀察業(yè)界的ling dao者，提供從微觀如MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）到宏觀如發(fā)動(dòng)機(jī)腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。

型號(hào)：所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 11:56:14 對(duì)比

三維光學(xué)顯微鏡輪廓儀白光干涉儀三維光學(xué)輪廓Bruker
納米壓痕儀Hysitron TS 77 Select
Hys代ron? TS 77 Selec產(chǎn)自動(dòng)臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)提供了同級(jí)別儀器中高的測試性能，功能性和易用性。基千布魯克有名的Triboscop鏟...

型號(hào)： bruker 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 10:48:02 對(duì)比

Bruker納米壓痕TI 980海思創(chuàng)布魯克
Bruker 納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)測試 TI 980
海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克優(yōu)良的納米力學(xué)測試設(shè)備，同時(shí)具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度。Bruker納米力學(xué)和納...

型號(hào)： Bruker H... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 10:45:51 對(duì)比

Bruker納米壓痕TI 980海思創(chuàng)布魯克
納米力學(xué)測試設(shè)備 TI 950 TriboIndenter
海思創(chuàng)TI 950 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克一臺(tái)用于多種納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的自動(dòng)化、高通量測試設(shè)備；納米力學(xué)測試設(shè)備 TI 950 T...

型號(hào)： Bruker TI... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 10:43:39 對(duì)比

Bruker納米壓痕TriboIndenter海思創(chuàng)布魯克
Bruker 臺(tái)階儀 Dektak XT
Bruker臺(tái)階儀Dektak XT也叫探針式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）；實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性。實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導(dǎo)體、...

型號(hào)： Bruker D... 所在地：北京市參考價(jià)：面議更新時(shí)間：2026/1/4 10:41:11 對(duì)比

BrukerDektak XT臺(tái)階儀輪廓儀探針

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